表征纳米粒子的方法很多，其中通过XRD、SEM、TEM可得到样品哪些方面的信息？
表征纳米粒子的方法很多，其中通过XR
D、SEM、TEM可得到样品哪些方面的信息？
发布时间：2025-08-12 16:52:07
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答案：X射线衍射（XRD）测量粒子尺寸和晶格畸变率
（1）X射线粉末物质衍射是鉴定物质晶相的有效手段，可以根据特征峰的位置鉴定样品的物相。
（2）依据XRD衍射图谱，根据Scherrer公式，利用衍射峰半高宽和位置（2θ），可以计算出纳米粒子的粒径。
（3）XRD还用于晶体结构的分析，对于简单的晶体结构，根据粉末衍射图可确定晶胞中的原子位置、晶胞参数以及晶胞中的原子数。透射电子显微镜（TEM）可用于研究纳米材料的结晶情况，可观察纳米粒子的形貌、分散情况，测量纳米粒子的粒径。用TEM可以得到原子级的形貌图像 扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察纳米粒子的形貌、在基体中的分散情况，测量粒径大小等。SEM通常只能提供微米或亚微米的形貌信息。
（1）X射线粉末物质衍射是鉴定物质晶相的有效手段，可以根据特征峰的位置鉴定样品的物相。
（2）依据XRD衍射图谱，根据Scherrer公式，利用衍射峰半高宽和位置（2θ），可以计算出纳米粒子的粒径。
（3）XRD还用于晶体结构的分析，对于简单的晶体结构，根据粉末衍射图可确定晶胞中的原子位置、晶胞参数以及晶胞中的原子数。透射电子显微镜（TEM）可用于研究纳米材料的结晶情况，可观察纳米粒子的形貌、分散情况，测量纳米粒子的粒径。用TEM可以得到原子级的形貌图像 扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察纳米粒子的形貌、在基体中的分散情况，测量粒径大小等。SEM通常只能提供微米或亚微米的形貌信息。
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