当滤膜上采集的粉尘量大于0.1mg时,焦磷酸法、红外分光光度法和X线衍射法均适用于样品中游离二氧化硅含量测定。 ( )
当滤膜上采集的粉尘量大于0.1mg时,焦磷酸法、红外分光光度法和X线衍射法均适用于样品中游离二氧化硅含量测定。 ( )
发布时间：2025-01-20 12:54:43
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