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在SiO2/Si刻蚀过程中等离子体对硅的刻蚀速率必须控制在非常低的程度,否则SiO2被清除的同时硅也大量被侵蚀。
A、正确;
B、错误
发布时间:
2025-06-23 22:05:49
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1.
在SiO2/Si刻蚀过程中等离子体对硅的刻蚀速率必须控制在非常低的程度,否则SiO2被清除的同时硅也大量被侵蚀。
2.
刻蚀的主要参数包括刻蚀速率、刻蚀因子、刻蚀选择性、刻蚀清洁度和
3.
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随后,选用具有刻蚀选择性的湿法刻蚀液,利用晶态与非晶态 GST 在刻蚀速率上的差异,
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苦橄岩又称镁橄岩,SiO2含量较低,总体呈低硅、高镁、贫碱的特点。
6.
微细加工技术中的刻蚀工艺可分为下列哪两种( )。A.干法刻蚀、湿法刻蚀B.溅射加工、直写加工C.离子束刻蚀、激光刻蚀
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